Terra, N. M., & https://lattes.cnpq.br/1591659751025899. (2024). Utilização de testes metalográficos (cross-section, dye pry e raio x) para análise de causa raiz de defeito: Estudo de caso em uma empresa de manufatura de placa de computador. Universidade Federal do Amazonas.
Citação Padrão ChicagoTerra, Nathália Mattos, and https://lattes.cnpq.br/1591659751025899. Utilização De Testes Metalográficos (cross-section, Dye Pry E Raio X) Para Análise De Causa Raiz De Defeito: Estudo De Caso Em Uma Empresa De Manufatura De Placa De Computador. Universidade Federal do Amazonas, 2024.
Citação MLATerra, Nathália Mattos, and https://lattes.cnpq.br/1591659751025899. Utilização De Testes Metalográficos (cross-section, Dye Pry E Raio X) Para Análise De Causa Raiz De Defeito: Estudo De Caso Em Uma Empresa De Manufatura De Placa De Computador. Universidade Federal do Amazonas, 2024.