2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography

OLIVA, Pedro Andrés Chira; CRUZ, João Carlos Ribeiro; CALLAPINO, German Garabito; HUBRAL, Peter; TYGEL, Martin

Artigo

2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography

The land seismic data suffers from effects due to the near surface irregularities and the existence of topography. For obtaining a high resolution seismic image, these effects should be corrected by using seismic processing techniques, e.g. field and residual static corrections. The Common-Reflectio...

ver descrição completa

Autor principal:	OLIVA, Pedro Andrés Chira
Outros Autores:	CRUZ, João Carlos Ribeiro, CALLAPINO, German Garabito, HUBRAL, Peter, TYGEL, Martin
Grau:	Artigo
Idioma:	eng
Publicado em:	2013
Assuntos:	Empilhamento CRS Topografia Curvatura da superfície de medição Irregularidades próximas da superfície
Acesso em linha:	http://repositorio.ufpa.br/jspui/handle/2011/3924

id	ir-2011-3924
recordtype	dspace
spelling	ir-2011-39242018-01-25T15:18:23Z 2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography OLIVA, Pedro Andrés Chira CRUZ, João Carlos Ribeiro CALLAPINO, German Garabito HUBRAL, Peter TYGEL, Martin Empilhamento CRS Topografia Curvatura da superfície de medição Irregularidades próximas da superfície The land seismic data suffers from effects due to the near surface irregularities and the existence of topography. For obtaining a high resolution seismic image, these effects should be corrected by using seismic processing techniques, e.g. field and residual static corrections. The Common-Reflection-Surface (CRS) stack method is a new processing technique to simulate zero-offset (ZO) seismic sections from multi-coverage seismic data. It is based on a second-order hyperbolic paraxial traveltime approximation referred to a central normal ray. By considering a planar measurement surface, the CRS stacking operator is defined by means of three parameters, namely the emergence angle of the normal ray, the curvature of the normal incidence point (NIP) wave, and the curvature of the normal (N) wave. In this paper the 2-D ZO CRS stack method is modified in order to consider effects due to the smooth topography. By means of this new CRS formalism, we obtain a high resolution ZO seismic section, without applying static corrections. As by-products the 2-D ZO CRS stack method we estimate at each point of the ZO seismic section the three relevant parameters associated to the CRS stack process. Os dados sísmicos terrestres são afetados pela existência de irregularidades na superfície de medição, e.g. a topografia. Neste sentido, para obter uma imagem sísmica de alta resolução, faz-se necessário corrigir estas irregularidades usando técnicas de processamento sísmico, e.g. correições estáticas residuais e de campo. O método de empilhamento Superfície de Reflexão Comum, CRS ("Common-Reflection-Surface", em inglês) é uma nova técnica de processamento para simular seções sísmicas com afastamento-nulo, ZO ("Zero-Offset", em inglês) a partir de dados sísmicos de cobertura múltipla. Este método baseia-se na aproximação hiperbólica de tempos de trânsito paraxiais de segunda ordem referido ao raio (central) normal. O operador de empilhamento CRS para uma superfície de medição planar depende de três parâmetros, denominados o ângulo de emergência do raio normal, a curvatura da onda Ponto de Incidência Normal, NIP ("Normal Incidence Point", em inglês) e a curvatura da onda Normal, N. Neste artigo o método de empilhamento CRS ZO 2-D é modificado com a finalidade de considerar uma superfície de medição com topografia suave também dependente desses parâmetros. Com este novo formalismo CRS, obtemos uma seção sísmica ZO de alta resolução, sem aplicar as correições estáticas, onde em cada ponto desta seção são estimados os três parâmetros relevantes do processo de empilhamento CRS. 2013-05-29T13:51:47Z 2013-05-29T13:51:47Z 2005-03 Artigo de Periódico CHIRA-OLIVA, Pedro, et al. 2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography. Revista Brasileira de Geofísica, São Paulo, v. 23, n. 1, p. 15-25, jan./mar. 2005. Disponível em: <http://www.scielo.br/pdf/rbg/v23n1/a02v23n1.pdf>. Acesso em: 23 maio 2013. <http://dx.doi.org/10.1590/S0102-261X2005000100002>. 0102-261X 1809-4511 http://repositorio.ufpa.br/jspui/handle/2011/3924 eng Acesso Aberto application/pdf
institution	Repositório Institucional - Universidade Federal do Pará
collection	RI-UFPA
language	eng
topic	Empilhamento CRS Topografia Curvatura da superfície de medição Irregularidades próximas da superfície
spellingShingle	Empilhamento CRS Topografia Curvatura da superfície de medição Irregularidades próximas da superfície OLIVA, Pedro Andrés Chira 2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography
topic_facet	Empilhamento CRS Topografia Curvatura da superfície de medição Irregularidades próximas da superfície
description	The land seismic data suffers from effects due to the near surface irregularities and the existence of topography. For obtaining a high resolution seismic image, these effects should be corrected by using seismic processing techniques, e.g. field and residual static corrections. The Common-Reflection-Surface (CRS) stack method is a new processing technique to simulate zero-offset (ZO) seismic sections from multi-coverage seismic data. It is based on a second-order hyperbolic paraxial traveltime approximation referred to a central normal ray. By considering a planar measurement surface, the CRS stacking operator is defined by means of three parameters, namely the emergence angle of the normal ray, the curvature of the normal incidence point (NIP) wave, and the curvature of the normal (N) wave. In this paper the 2-D ZO CRS stack method is modified in order to consider effects due to the smooth topography. By means of this new CRS formalism, we obtain a high resolution ZO seismic section, without applying static corrections. As by-products the 2-D ZO CRS stack method we estimate at each point of the ZO seismic section the three relevant parameters associated to the CRS stack process.
format	Artigo
author	OLIVA, Pedro Andrés Chira
author2	CRUZ, João Carlos Ribeiro CALLAPINO, German Garabito HUBRAL, Peter TYGEL, Martin
author2Str	CRUZ, João Carlos Ribeiro CALLAPINO, German Garabito HUBRAL, Peter TYGEL, Martin
title	2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography
title_short	2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography
title_full	2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography
title_fullStr	2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography
title_full_unstemmed	2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography
title_sort	2-d zo crs stack by considering an acquisition line with smooth topography
publishDate	2013
url	http://repositorio.ufpa.br/jspui/handle/2011/3924
_version_	1832604730456539136
score	11.755432

2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography

Registros relacionados