Relatório de Pesquisa

Caracterização estrutural e morfológica da Poli(o-metoxianilina) base de Esmeraldina (POMA-EB) obtida em diferentes condições de neutralização

Os Polímeros Intrinsecamente Condutores conduzem corrente elétrica sem a incorporação de cargas condutoras, representando uma classe de materiais com propriedades mecânicas, processabilidade e comportamento elétrico, óptico e magnético semelhantes aos dos metais e semicondutores inorgânicos. A Pol...

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Autor principal: Ludson Costa Azuelo Gomes
Grau: Relatório de Pesquisa
Idioma: pt_BR
Publicado em: Universidade Federal do Amazonas 2016
Assuntos:
XRD
Acesso em linha: http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/3824
Resumo:
Os Polímeros Intrinsecamente Condutores conduzem corrente elétrica sem a incorporação de cargas condutoras, representando uma classe de materiais com propriedades mecânicas, processabilidade e comportamento elétrico, óptico e magnético semelhantes aos dos metais e semicondutores inorgânicos. A Polianilina (PANI) tem um grande destaque na classe dos polímeros condutores. Entretanto, existem algumas limitações que dificultam o seu uso em larga escala industrial. Várias alternativas são propostas para contornar estas limitações, sendo que uma delas, relacionada à sua solubilidade, consiste em obter derivados da PANI através da introdução de grupos funcionais polares ou de grupos alcoxi ligados quimicamente à sua cadeia principal. Assim, a Poli(o-metoxianilina) (POMA) é um dos principais derivados da PANI e sua diferença estrutural está na presença do grupo (−OCH3) na posição orto dos anéis de carbono. Essa modificação estrutural produz um polímero com características físico-químicas diferentes, como solubilidade, condutividade elétrica, cristalinidade, morfologia, processabilidade etc. A POMA-EB será obtida através da neutralização da Poli(o-metoxianilina) Sal de Esmeraldina (POMA-ES), em solução básica de NaOH 1,0 mol/L, utilizando-se diferentes tempos de neutralização. Assim, pretende-se realizar uma caracterização estrutural e morfológica da POMA-EB através das técnicas de Difração de Raios X (DRX), Refinamento Estrutural pelo Método LeBail, Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e medidas de Condutividade Elétrica pelo método de Van der Pauwl.