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Pereira, A. F. F. d. F. (2017). Difração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A. Universidade Federal do Amazonas.
Citação Padrão ChicagoPereira, Aercio Filipe Franklim de Figueiredo. Difração De Raios X in Situ, Em Altas Temperaturas E Altas Pressões Aplicados a Semicondutores Lamelares Da Família 4A-6A. Universidade Federal do Amazonas, 2017.
Citação MLAPereira, Aercio Filipe Franklim de Figueiredo. Difração De Raios X in Situ, Em Altas Temperaturas E Altas Pressões Aplicados a Semicondutores Lamelares Da Família 4A-6A. Universidade Federal do Amazonas, 2017.
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