Difração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A
Este trabalho resume-se na síntese e caracterização de materiais termoelétricos compostos por elementos da família 4A-6A por diferentes rotas, em especial a mecanoquímica. Aplicação do método de Rietveld. Difração de raios x por transmissão em função da pressão e medidas espectroscópicas. Difraç...
| Autor principal: | Aercio Filipe Franklim de Figueiredo Pereira |
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| Grau: | Relatório de Pesquisa |
| Idioma: | pt_BR |
| Publicado em: |
Universidade Federal do Amazonas
2017
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| Assuntos: | |
| Acesso em linha: |
http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174 |
| Resumo: |
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Este trabalho resume-se na síntese e caracterização de materiais termoelétricos compostos por elementos da família 4A-6A por diferentes rotas, em especial a mecanoquímica. Aplicação do método de Rietveld. Difração de raios x por transmissão em função da pressão e medidas espectroscópicas.
Difração de raio-x em função da temperatura.
Analise termidinâmica e determinação das equações de estados. |