Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados

Pereira, Vinicius Matheus Batista

Trabalho de Conclusão de Curso

Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados

Analog-to-digital converters allow digital systems to access the physical analog variables present in the world, but to ensure the quality of the data provided it is necessary to know the performance parameters of the converter. In this course conclusion work, a test circuit for an analog-to-digital...

ver descrição completa

Autor principal:	Pereira, Vinicius Matheus Batista
Grau:	Trabalho de Conclusão de Curso
Idioma:	por
Publicado em:	Brasil 2022
Assuntos:	Conversor analógico-digital Parâmetros estáticos Parâmetros dinâmicos Conversor integrador ENGENHARIAS: ENGENHARIA ELETRICA: CIRCUITOS ELETRICOS, MAGNETICOS E ELETRONICOS: CIRCUITOS ELETRONICOS Processamento eletrônico de dados Conversores analógicos-digitais
Acesso em linha:	http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/6289

id	oai:localhost:prefix-6289
recordtype	dspace
spelling	oai:localhost:prefix-62892025-03-10T20:44:49Z Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados Pereira, Vinicius Matheus Batista Bezerra, Thiago Brito http://lattes.cnpq.br/6915300464157124 Silva Júnior, Waldir Sabino da http://lattes.cnpq.br/2925380715531711 Marques, Greicy Costa http://lattes.cnpq.br/7674926694884819 Conversor analógico-digital Parâmetros estáticos Parâmetros dinâmicos Conversor integrador ENGENHARIAS: ENGENHARIA ELETRICA: CIRCUITOS ELETRICOS, MAGNETICOS E ELETRONICOS: CIRCUITOS ELETRONICOS Processamento eletrônico de dados Conversores analógicos-digitais Analog-to-digital converters allow digital systems to access the physical analog variables present in the world, but to ensure the quality of the data provided it is necessary to know the performance parameters of the converter. In this course conclusion work, a test circuit for an analog-to-digital converter with input range and programmable resolution using a switched capacitor is developed. The converter was designed at the transistor level and manufactured using AMS 0.35 µ CMOS technology, but its operation and performance still need to be tested experimentally. Its method of operation is studied for application of tests with ramp and sinusoidal signals, through a digital-analog converter and a board with ARM microcontroller. From the results obtained, the static and dynamic parameters of the converter are extracted for a resolution range of 5 and 8 bits, with unity gain and 1.5 times. At the end of the tests, it was possible to validate the performance of the converter for the full 5-bit range, with satisfactory results, however improvements need to be made in the testing methodology for the 8-bit resolution. Conversores analógico-digitais permitem que sistemas digitais tenham acesso as variáveis físicas analógicas presentes no meio, mas para assegurar a qualidade dos dados prestados é necessário conhecer os parâmetros de desempenho do conversor. Neste trabalho de conclusão de curso é desenvolvido um circuito de testes para um conversor analógico-digital integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitor chaveado. O conversor foi projetado em nível de transistores e fabricado com tecnologia AMS 0,35 µ CMOS, mas ainda é necessário comprovar experimentalmente seu funcionamento e desempenho. Seu método de funcionamento é estudado para aplicação de testes com sinais de rampa e senoidais, por meio de um conversor digital-analógico e uma placa com microcontrolador ARM. A partir dos resultados obtidos, são extraídos os parâmetros estáticos e dinâmicos do conversor para faixa de resolução de 5 e 8 bits, com ganho unitário e de 1,5 vezes. Ao fim dos testes, foi possível validar o desempenho do conversor para a faixa de 5 bits completa, com resultados satisfatórios, no entanto melhorias precisam ser feitas na metodologia de testes para a resolução de 8 bits. 3 Não 2022-09-16T21:55:50Z 2022-09-15 2022-09-16T21:55:50Z 2022-09-12 Trabalho de Conclusão de Curso http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/6289 por Acesso Aberto Brasil FT - Faculdade de Tecnologia Manaus (AM) Engenharia Elétrica – Eletrônica - Bacharelado - Manaus
institution	Repositório Institucional - Universidade Federal do Amazonas
collection	RI-UFAM
language	por
topic	Conversor analógico-digital Parâmetros estáticos Parâmetros dinâmicos Conversor integrador ENGENHARIAS: ENGENHARIA ELETRICA: CIRCUITOS ELETRICOS, MAGNETICOS E ELETRONICOS: CIRCUITOS ELETRONICOS Processamento eletrônico de dados Conversores analógicos-digitais
spellingShingle	Conversor analógico-digital Parâmetros estáticos Parâmetros dinâmicos Conversor integrador ENGENHARIAS: ENGENHARIA ELETRICA: CIRCUITOS ELETRICOS, MAGNETICOS E ELETRONICOS: CIRCUITOS ELETRONICOS Processamento eletrônico de dados Conversores analógicos-digitais Pereira, Vinicius Matheus Batista Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados
topic_facet	Conversor analógico-digital Parâmetros estáticos Parâmetros dinâmicos Conversor integrador ENGENHARIAS: ENGENHARIA ELETRICA: CIRCUITOS ELETRICOS, MAGNETICOS E ELETRONICOS: CIRCUITOS ELETRONICOS Processamento eletrônico de dados Conversores analógicos-digitais
description	Analog-to-digital converters allow digital systems to access the physical analog variables present in the world, but to ensure the quality of the data provided it is necessary to know the performance parameters of the converter. In this course conclusion work, a test circuit for an analog-to-digital converter with input range and programmable resolution using a switched capacitor is developed. The converter was designed at the transistor level and manufactured using AMS 0.35 µ CMOS technology, but its operation and performance still need to be tested experimentally. Its method of operation is studied for application of tests with ramp and sinusoidal signals, through a digital-analog converter and a board with ARM microcontroller. From the results obtained, the static and dynamic parameters of the converter are extracted for a resolution range of 5 and 8 bits, with unity gain and 1.5 times. At the end of the tests, it was possible to validate the performance of the converter for the full 5-bit range, with satisfactory results, however improvements need to be made in the testing methodology for the 8-bit resolution.
author_additional	Bezerra, Thiago Brito
author_additionalStr	Bezerra, Thiago Brito
format	Trabalho de Conclusão de Curso
author	Pereira, Vinicius Matheus Batista
title	Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados
title_short	Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados
title_full	Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados
title_fullStr	Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados
title_full_unstemmed	Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados
title_sort	análise e teste de um conversor a/d integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados
publisher	Brasil
publishDate	2022
url	http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/6289
_version_	1831969838088585216
score	11.755432

Análise e teste de um conversor A/D integrador com faixa de entrada e resolução programável a capacitores chaveados

Registros relacionados