Este trabalho apresenta a caracterização detalhada de filmes finos de manganita de
lantânio (LaMnO3), preparadas pelo método sol-gel. A investigação é de grande
relevância devido ao seu potencial para aplicações em dispositivos eletrônicos, ópticos e
magnéticos. Compreender suas propriedades estruturais, térmicas e morfológicas
possibilita o desenvolvimento de materiais mais eficientes e funcionais, contribuindo para
avanços significativos em tecnologias, como sensores, catalisadores e dispositivos de
armazenamento de energia. Neste estudo o substrato foi seco e pré-sinterizado a 400°C e,
em seguida, as amostras foram sinterizadas entre 650ºC e 850ºC. Através das análises
termogravimétrica (TG) e de análise térmica diferencial (DTA), determinou-se a
temperatura de transição de fase da manganita de lantânio, a qual foi observada como
superior a 650°C. Com base na análise de FTIR foi possível constatar os principais grupos
funcionais, tais como, vibrações Mn – O – Mn, grupos carboxílicos e ligações O – H. Da
análise de DRX, padrões espaciais em função da temperatura de sinterização dos filmes
foram obtidos e foi verificado que as amostras sinterizadas entre 700°C e 800°C
apresentam uma fase ortorrômbica com simetria Pbnm. A morfologia da superfície dos
filmes finos foi analisada pelas técnicas de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)
e de Microscopia de Força Atômica (AFM). As imagens mostram a formação de
superfícies homogêneas, sem fraturas e com tamanho de grão médio que varia em torno
de 200 e 300 nm. A rugosidade média das superfícies varia de 1,9 nm a 7 nm. Os
resultados obtidos neste estudo destacam a importância das condições de processamento,
especialmente as temperaturas de sinterização, na formação e nas propriedades dos filmes
finos de LaMnO3.
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