Dissertação

Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3)

Este trabalho apresenta a caracterização detalhada de filmes finos de manganita de lantânio (LaMnO3), preparadas pelo método sol-gel. A investigação é de grande relevância devido ao seu potencial para aplicações em dispositivos eletrônicos, ópticos e magnéticos. Compreender suas propriedades e...

ver descrição completa

Autor principal: Silva, Alexandre Souza de
Outros Autores: http://lattes.cnpq.br/4672756012383240, https://orcid.org/0009-0008-6496-6353
Grau: Dissertação
Idioma: por
Publicado em: Universidade Federal do Amazonas 2024
Assuntos:
CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA
Filmes Finos
Manganita de Lântanio
Sol gel
Acesso em linha: https://tede.ufam.edu.br/handle/tede/10258
id oai:https:--tede.ufam.edu.br-handle-:tede-10258
recordtype dspace
spelling oai:https:--tede.ufam.edu.br-handle-:tede-102582024-08-09T05:03:45Z Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3) Silva, Alexandre Souza de Filho, Henrique Duarte da Fonseca http://lattes.cnpq.br/4672756012383240 http://lattes.cnpq.br/1464003755275281 Matos, Robert Saraiva Paula, Marcos Marques da Silva https://orcid.org/0009-0008-6496-6353 CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA Filmes Finos Manganita de Lântanio Sol gel Este trabalho apresenta a caracterização detalhada de filmes finos de manganita de lantânio (LaMnO3), preparadas pelo método sol-gel. A investigação é de grande relevância devido ao seu potencial para aplicações em dispositivos eletrônicos, ópticos e magnéticos. Compreender suas propriedades estruturais, térmicas e morfológicas possibilita o desenvolvimento de materiais mais eficientes e funcionais, contribuindo para avanços significativos em tecnologias, como sensores, catalisadores e dispositivos de armazenamento de energia. Neste estudo o substrato foi seco e pré-sinterizado a 400°C e, em seguida, as amostras foram sinterizadas entre 650ºC e 850ºC. Através das análises termogravimétrica (TG) e de análise térmica diferencial (DTA), determinou-se a temperatura de transição de fase da manganita de lantânio, a qual foi observada como superior a 650°C. Com base na análise de FTIR foi possível constatar os principais grupos funcionais, tais como, vibrações Mn – O – Mn, grupos carboxílicos e ligações O – H. Da análise de DRX, padrões espaciais em função da temperatura de sinterização dos filmes foram obtidos e foi verificado que as amostras sinterizadas entre 700°C e 800°C apresentam uma fase ortorrômbica com simetria Pbnm. A morfologia da superfície dos filmes finos foi analisada pelas técnicas de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e de Microscopia de Força Atômica (AFM). As imagens mostram a formação de superfícies homogêneas, sem fraturas e com tamanho de grão médio que varia em torno de 200 e 300 nm. A rugosidade média das superfícies varia de 1,9 nm a 7 nm. Os resultados obtidos neste estudo destacam a importância das condições de processamento, especialmente as temperaturas de sinterização, na formação e nas propriedades dos filmes finos de LaMnO3. This work presents the detailed characterization of thin films of lanthanum manganite (LaMnO3), prepared by the sol-gel method. The research is of great relevance due to its potential for applications in electronic, optical and magnetic devices. Understanding their structural, thermal and morphological properties enables the development of more efficient and functional materials, contributing to significant advances in emerging technologies such as sensors, catalysts and energy storage devices. In this study, the substrate was dried and pre-sintered at 400ºC and then the samples were sintered between 650ºC and 850ºC. Thermogravimetric analysis (TG) and differential thermal analysis (DTA) determined the phase transition temperature of lanthanum manganite, which was observed to be higher than 650°C. FTIR analysis revealed the main functional groups, such as Mn - O - Mn vibrations, carboxylic groups and O - H bonds. XRD analysis showed spatial patterns depending on the sintering temperature of the films and showed that the samples sintered between 700°C and 800°C have an orthorhombic phase with Pbnm symmetry. The surface morphology of the thin films was analyzed using Scanning Electron Microscopy (SEM) and Atomic Force Microscopy (AFM) techniques. The images show the formation of homogeneous surfaces, without fractures and with an average grain size of around 200 and 300 nm. The average surface roughness ranges from 1.9 nm to 7 nm. The results obtained in this study highlight the importance of processing conditions, especially sintering temperatures, in the formation and properties of LaMnO3 thin films. Capes Não houve dificuldades Todas as informações foram colocadas. 2024-08-08T21:20:28Z 2024-06-27 Dissertação SILVA, Alexandre Souza da. Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3). 2024. 70 f. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal do Amazonas, Manaus (AM), 2024. https://tede.ufam.edu.br/handle/tede/10258 por Acesso Aberto https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ application/pdf Universidade Federal do Amazonas Instituto de Ciências Exatas Brasil UFAM Programa de Pós-graduação em Física
institution TEDE - Universidade Federal do Amazonas
collection TEDE-UFAM
language por
topic CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA
Filmes Finos
Manganita de Lântanio
Sol gel
spellingShingle CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA
Filmes Finos
Manganita de Lântanio
Sol gel
Silva, Alexandre Souza de
Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3)
topic_facet CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA
Filmes Finos
Manganita de Lântanio
Sol gel
description Este trabalho apresenta a caracterização detalhada de filmes finos de manganita de lantânio (LaMnO3), preparadas pelo método sol-gel. A investigação é de grande relevância devido ao seu potencial para aplicações em dispositivos eletrônicos, ópticos e magnéticos. Compreender suas propriedades estruturais, térmicas e morfológicas possibilita o desenvolvimento de materiais mais eficientes e funcionais, contribuindo para avanços significativos em tecnologias, como sensores, catalisadores e dispositivos de armazenamento de energia. Neste estudo o substrato foi seco e pré-sinterizado a 400°C e, em seguida, as amostras foram sinterizadas entre 650ºC e 850ºC. Através das análises termogravimétrica (TG) e de análise térmica diferencial (DTA), determinou-se a temperatura de transição de fase da manganita de lantânio, a qual foi observada como superior a 650°C. Com base na análise de FTIR foi possível constatar os principais grupos funcionais, tais como, vibrações Mn – O – Mn, grupos carboxílicos e ligações O – H. Da análise de DRX, padrões espaciais em função da temperatura de sinterização dos filmes foram obtidos e foi verificado que as amostras sinterizadas entre 700°C e 800°C apresentam uma fase ortorrômbica com simetria Pbnm. A morfologia da superfície dos filmes finos foi analisada pelas técnicas de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e de Microscopia de Força Atômica (AFM). As imagens mostram a formação de superfícies homogêneas, sem fraturas e com tamanho de grão médio que varia em torno de 200 e 300 nm. A rugosidade média das superfícies varia de 1,9 nm a 7 nm. Os resultados obtidos neste estudo destacam a importância das condições de processamento, especialmente as temperaturas de sinterização, na formação e nas propriedades dos filmes finos de LaMnO3.
author_additional Filho, Henrique Duarte da Fonseca
author_additionalStr Filho, Henrique Duarte da Fonseca
format Dissertação
author Silva, Alexandre Souza de
author2 http://lattes.cnpq.br/4672756012383240
https://orcid.org/0009-0008-6496-6353
author2Str http://lattes.cnpq.br/4672756012383240
https://orcid.org/0009-0008-6496-6353
title Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3)
title_short Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3)
title_full Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3)
title_fullStr Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3)
title_full_unstemmed Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3)
title_sort investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3d de filmes finos de manganita de lântanio (lamno3)
publisher Universidade Federal do Amazonas
publishDate 2024
url https://tede.ufam.edu.br/handle/tede/10258
_version_ 1831970330122387456
score 11.753896

Registros relacionados